КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Разностный компенсационный
Прямые косвенные Способы сравнения оптических параметров объекта с мерой
Проведем систематизацию методов сравнения величин с эталонными значениями. Способы сравнения фотометрических величин с эталонными.
Непосредственное опосредованное сравнение с эталоном
дифференциальные методы замещений метод отношений методы
При прямом измерении непосредственнорегистрируется измеряемый параметр X. При косвенном измерении измеряемая величина связана известной функциональной зависимостью с регистрируемыми параметрами излучения: X=φ(хi), где X- величина; которую следует определить в результате измерений, а Хi- регистрируемый прибором параметр.
Метод отклонений (непосредственное сравнение) – измеряемая величина вызывает реакцию прибора, известную из предварительной градуировки по эталону. С учётом результатов предварительной градуировки определяются параметры объекта. При опосредованном сравнении – сравниваются параметры объекта с параметрами эталона, посредством различных технических средств. Основной вариант опосредованного сравнения– это дифференциальный метод. В дифференциальном методе измеряемая величина сравнивается с эталоном. Выявляется различие параметров объекта и эталона. Такое сравнение возможно двумя путями: разностное или компенсационное. Разностный метод:
Схема дифференциально- разностного фотометра содержит: 1 – источника излучения 2 – оптическая система; 3 – модулятор – прерыватель; 4 – фотоприемник; 5 – контур связи для синхронизации сигнала и положения модулятора. Разностный сигнал: ΔФ=Фэт – Фх, откуда следует ΔU=SvΔФ, поэтому Фх= Фэт- ΔФ, Следовательно ΔФ=ΔU/ Sv, в результате Фх= Фэт-(U/ Sv). Дифференциальный компенсационный оптический метод сравнения с эталоном.
Фх Сигнал составит: Фх=Косл Фэт П.И. 1 * 2 Фх 3 4 Схема дифференциального компенсационного метода содержит: 1 – источника излучения; 2 – оптическая система, которая фокусирует изображение источника на фотоприемник (4); 3 – модулятор – прерыватель, поочередно прерывающий сигнал от эталона или от источника; 5 – компенсатор, ослабляющий поток;6 – обратная связь, регулирующая степень компенсации; 7 – регистрирующий элемент. Метод замещения. Состоит в замещении эталона на исследуемый образец для выявления расхождений их параметров. Например, фотометрический шар: Фэт и Фх Метод отношений исходит изотношения параметров образца и эталона: Фх/Фэт= к. Тогда искомый параметр находится по формуле: Фх= к∙ Фэт.
Дата добавления: 2017-02-01; Просмотров: 51; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! |