КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Способы измерения силы света удаленного источника и яркости объекта
Светомерный шар Способы измерения основных фотометрических параметров.
1 – источник излучения, 2 –фотометрический шар; 3 – диафрагма, 4 – экран, исключающий прямое попадание лучей на приёмник, 5 – приемник излучения. Сигнал определяется выражением: Vф = φ Sv Ф. Очевидно: Ф / Фэт = (∫Фλ Sλ отн dλ / ∫Фλ dλ) / (∫Фλ эт Sλ отн dλ/ ∫Фλ эт dλ) Если спектры эталона и объекта различаются не значимо, выражение можно представить в упрощенной форме: Ф = Фэт(Vф /Vф эт) Освещенность измеряется косвенным методом, учитывающим результаты измерения потока Ф и площади приемника Рпр: E= Ф/Рпр, откуда следует Еи = Еэт (Vи/Vэт). Компенсационный метод: регулируется площадь входной диафрагмы, чтобы уравновесить разницу сигналов: Vэт = Sv Фэ = Sv Еэт Рэт; Поэтому Vи = Sv Еи Ри Тогда Еи = Еэт (Ри/Рэт ). При исследовании объекта возможны два случая: 1) Расстояние l известно, тогда для измерения силы света можно использовать формулу I = Е l². Воспользуемся методом отношений: I = Еэт l ² (Vи/ Vэт), 2) Определить lx невозможно (для удаленного источника). В этом случае измеряется освещенность в двух точках, которые удаленны друг от друга на известное расстояние. Возьмем приращение расстояния: δ l = l 1 – l 2
Схема измерения. Е1 Е2
Е2 – освещенность удаленной точки,
δ l
I = Е2 (l x + δ l) ² I = Е1 l x² Получим:
Яркость источника
Для измерения яркости в схему измерения силы света добавляют диафрагму, контролирующую площадь источника излучения - P. Схема измерения яркости содержит: 1-объект, 2 - диафрагма, 3 – приемник.
где Sθ - видимая площадь излучающей поверхности.
Дата добавления: 2017-02-01; Просмотров: 72; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! |