КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Исследование электромагнитного поля цилиндрической катушки с переменным током и электромагнитного экранирования
БЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК 1) Баев И.А. Экономика предприятия: Учебник для вузов/ И.А. Баев, З.Н. Варламова, О.Е. Васильева, В.М. Семенова. – СПб.: Питер, 2005. – 384 с. 2) Берзинь И.Э. Экономика предприятия. Учебник для вузов / И.Э. Берзинь, С.А. Пикунова, Н.Н. Савченко, С.Г. Фалько. – М.: Дрофа, 2003. - 368 с. 3) Волков О.И. Экономика предприятия (фирмы) / О.И. Волков, О.В. Девяткина. - М.: ИНФРА-М, 2007. - 601 с. 4) Горбацевич А.Ф. Курсовое проектирование по технологии машиностроения/ А.Ф.Горбацевич – Минск: Высш. шк., 1983. – 256 с. 5) Экономика предприятия / Под ред. В.Я. Горфинкеля. ¾ М.: Банки и биржи, 2000. ¾ 742 с. 6) Грузинов В.П. Экономика предприятия/ В.П.Грузинов. – М.: «Банки и биржи», 1998. – 530 с. 7) Савицкая Г.В. Анализ хозяйственной деятельности предприятия/ Г.В. Савицкая. – Мн.: Новое издание, 2001. – 704с. 8) Сергеев И.В. Экономика предприятия: Учеб. пособие / И.В. Сергеев.– М.: Финансы и статистика, 1999. – 304 с.
Выполнил студенты группы ЗЭБ – 232 Шеверов В.В
Омск 2014
Цель работы: 1. Изучение магнитного поля цилиндрической катушки с переменным током и электромагнитного экранирования поля катушки с использованием двух типов цилиндрических экранов (отрезок медной трубы µ = µ0 = 4π∙10-7Гн/м, электропроводность γ = 5,7 ∙ 107 1/Ом∙м), отрезок стальной трубы сталь 3, µ >> µ0, γ = 0,8 ∙ 107 1/Ом∙м), вставляемых внутрь цилиндрической катушки, создающей первичное поле; 2. Углубление понимания закона полного тока; 3. Приобретение навыков работы с современными средствами измерения магнитного поля. 4. Исследование экранирования магнитного поля в комплексе программ ELCUT. Домашнее задание Ознакомление с теоретической частью работы. На основании закона Био-Савара-Лапласа модуль вектора напряженности магнитного поля Н на оси цилиндрической однослойной катушки диаметром dК и длинной l, по которой протекает ток i, определяется выражением:
где α1 и α2 – значения углов между осью катушки и радиус-векторами, направленными от крайних витков катушки к точке, в которой определяется значение напряженности магнитного поля (рис. 1), dкср- средний диаметр катушки, Х - расстояние от середины катушки до точек, в которых определяется напряженность магнитного поля Н.
Рис. 1
Выражение (1) применяется в данной работе для расчета напряженности магнитного поля на осевой линии катушки в различных точках, лежащих как внутри катушки, так и за ее пределами на осевой линии. Численный пример расчета напряженности магнитного поля на оси катушки Пусть катушка намотана в один слой (рис. 2). Число витков W = 200 длина катушки l = 120 мм = 0,12 м; средний диаметр катушки dк = 40 мм = 0,04 м; ω = 2 πf; f = 50 Гц; Im = 1 А. Рассчитаем значение напряженности магнитного поля на оси катушки в точках Х = 0, 20 мм, 40 мм, 60 мм, 80 мм.
Рис. 2 Таблица 1 Таблица данных по расчету напряженности магнитного поля на оси этой катушки
На графике (рис. 3) показана зависимость напряженности магнитного поля на оси этой катушки от координаты Х по данным таблицы 1.
Рис. 3 Распределение напряженности магнитного поля по оси катушки (dкср = 40 мм, l = 120 мм, Iт = 1 А) Из расчетных данных для этой катушки, напряженность магнитного поля на оси незначительно изменяется в диапазоне -40мм
Электромагнитное экранирование. Коэффициент экранирования, расчет магнитного поля в экранированной области Электромагнитные экраны (рис. 4) широко применяются для защиты от внешних электромагнитных полей (ЭМП) различного электронного оборудования и электротехнических устройств, которые стремятся расположить в экранированном пространстве. Для защиты от действия переменного электромагнитного поля высокой частоты обычно применяют немагнитные электропроводящие материалы (медь, алюминий и др.), обладающие высокой электропроводностью и магнитной проницаемостью близкой к магнитной проницаемости воздуха (µ 0). Для экранирования низкочастотных электромагнитных полей и экранирования действия постоянных магнитных полей часто применяют ферромагнитные электропроводящие материалы.
Рис. 4
В лабораторной установке при исследовании электромагнитного экранирования используется два типа цилиндрических экранов: – медный экран (d 1 = 20 мм, d 2 = 7,0 мм, µ γ = 5,7 ∙ 107 1/Ом∙м, длина экрана lЭ1 = 173 мм); – стальной экран (d 1 = 22 мм, d 2 = 16 мм, µ γ = 0,8 ∙ 107 1/Ом∙м, длина экрана lЭ2 = 170 мм); При расчете коэффициента экранирования S = Hi / Ha или напряженности магнитного поля во внутренней полости Hi = S ∙ Ha полагаем, что длина экрана достаточно велика, т.е. длина экрана существенно больше диаметра его, а внешнее поле Ha однородно и имеет только осевую составляющую, как показано на рис. 4. При достаточно большой длине экрана и катушки можно пренебречь краевым эффектом и считать, что поле внутри экранированной области однородно. Для случая длинного цилиндрического экрана при воздействии однородного магнитного поля Ha комплексное значение напряженности магнитного поля в экранированном пространстве при синусоидальном токе, возбуждающем поле Ha (рис. 4) определяется выражением
где
µ = µr ∙ µ 0 – абсолютная магнитная проницаемость; µr – относительная магнитная проницаемость; µ 0 – 4 π ∙10-7 Гн/м. При решении задачи проникновения поля в проводящую среду вводится понятие глубины проникновения поля Из (2) следует, что поле в экранированной области сильно зависит от толщины стенки экрана и частоты синусоидального тока Как видно из этого выражения, чем толще стенка экрана, чем больше электропроводность и магнитная проницаемость материала стенок экрана, тем сильнее экранируется внешнее поле. При низких частотах поверхностный эффект практически не проявляется и экран ведет себя как короткозамкнутый виток, при этом плотность кольцевого тока в нем практически равномерно распределена по толщине стенки экрана. Низкими частотами назовем частоты, при которых толщина стенки экрана d меньше Δ, т.е. Δ > d. Частоты, при которых Δ < d, будем считать высокими, то есть на этих частотах кольцевые вихревые токи в стенке экрана вытесняются на поверхность (поверхностный эффект). Для области низких частот получаем из (2) следующую формулу для расчета Нi
Для области высоких частот
Из выражения (4) видно, чем больше толщина стенки экрана d, а также чем больше величины ω, µ, γ (
Рабочее задание Описание лабораторного стенда и измерительного комплекса
На рис. 5 представлена электрическая схема лабораторной установки, а на рис. 6 – общий вид ее.
Рис. 5 Электрическая схема лабораторной установки В состав электрической схемы входят: 1 – катушка, по которой протекает переменный ток i за счет действия ЭДС вторичной обмотки W2 трансформатора Т, регулировка которого осуществляется изменением сопротивления R рег. Последовательно с катушкой включен цифровой амперметр 5 и измерительное сопротивление (R изм = 0,1 Ом) для снятия осциллограммы тока катушки, временная форма которого совпадает с кривой напряженности магнитного поля На (или магнитной индукции Ва = µ0 ∙ На); 2 – цилиндрический экран, экранирующий внешнее поле На (Нi – напряженность магнитного поля внутри экранированной области); 3 – цифровой мультиметр, измеряющий магнитную индукцию во внутренней области экрана (при отсутствии экрана измеряет магнитную индукцию поля катушки На = Ва / µ0, где µ0 = 4 π ∙ 10-7 Гн/м – магнитная проницаемость воздуха); 4 – датчик Холла, выходное напряжение которого пропорционально магнитной индукции, пронизывающей полупроводниковую пластину датчика Холла; 5 – цифровой амперметр для измерения действующего значения тока катушки (I = Im / 6 – измерительный комплекс (виртуальный осциллограф) для записи кривой тока i и кривой индукции магнитного поля, в состав которого входят аналого-цифровой преобразователь АЦП и компьютер ПК (перед использованием комплекса необходимо ознакомиться с инструкцией).
Рис. 6. Общий вид лабораторного стенда Результаты экспериментального исследования экранирования магнитного поля с различными экранами.
На оси катушки при отсутствии экрана измеренное значение (амплитудное значение) магнитной индукции с помощью миллитесламетра Медный экран. На оси катушки Коэффициент экранирования
Стальной экран. На оси катушки Коэффициент экранирования
Результаты расчета магнитного поля в комплексе программ ELCUT.
Магнитное поле с медным экраном.
Напряженность магнитного поля на середине высоты катушки с медным экраном (рис. 8).
Рис. 8 Стальной экран. Задание в расчете основной характеристики намагничивания стали (рис. 9).
Рис. 9
Картина магнитного поля со стальным экраном (рис. 10).
Рис. 10 График напряженности магнитного поля (рис. 11) на середине высоты катушки с током.
Рис. 10.
Расчетный коэффициент экранирования с медным экраном Расчетный коэффициент экранирования со стальным экраном
Вывод. Расхождение результатов расчета и опыта со стальным экраном вызвано необходимостью учета в расчете комплексной магнитной проницаемости стали.
Дата добавления: 2015-07-02; Просмотров: 2202; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! |